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ITER中子屏蔽层结构分析中二次应力去除

文献类型:期刊论文

作者王开松1; 徐杨1; 宋云涛1; 王忠伟1
刊名核技术
出版日期2011
卷号034
关键词ITER 真空室 中子屏蔽 结构 二次应力 QR
ISSN号0253-3219
其他题名Removing the secondary stress in structure analysis of ITER in-wall shields
英文摘要国际热核实验反应堆ITER(International Thermonuclear Experimental Reactor)计划是一个融合国际研究合作项目。中子屏蔽IWS位于VV内壳和外壳之间,用于屏蔽中子、降低环向磁场波纹度。利用ANSYS有限元软件对其中一个中子屏蔽模块进行了结构分析,并提出运用QR算法和ANSYS有限元软件相结合的方法去除二次应力,对去除二次应力的结果进行了评定,根据ASME标准,评定结果满足设计要求,为中子屏蔽模块的优化设计提供了参考依据。
语种中文
CSCD记录号CSCD:4265868
源URL[http://ir.hfcas.ac.cn:8080/handle/334002/49595]  
专题中国科学院合肥物质科学研究院
作者单位1.安徽理工大学机械工程学院
2.中国科学院等离子体物理研究所
3.中国科学院等离子体物理研究所
4.安徽理工大学机械工程学院
推荐引用方式
GB/T 7714
王开松,徐杨,宋云涛,等. ITER中子屏蔽层结构分析中二次应力去除[J]. 核技术,2011,034.
APA 王开松,徐杨,宋云涛,&王忠伟.(2011).ITER中子屏蔽层结构分析中二次应力去除.核技术,034.
MLA 王开松,et al."ITER中子屏蔽层结构分析中二次应力去除".核技术 034(2011).

入库方式: OAI收割

来源:合肥物质科学研究院

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