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感应耦合等离子体增强射频磁控溅射沉积ZrN薄膜及其性能研究

文献类型:期刊论文

作者刘峰4; 孟月东4; 任兆杏4; 舒兴胜4
刊名物理学报
出版日期2008
卷号057
关键词感应耦合等离子体 磁控溅射 ZrN薄膜 微结构 性能
ISSN号1000-3290
其他题名Characterization of ZrN films deposited by ICP enhanced RF magnetron sputtering
英文摘要利用感应耦合等离子体(ICP)增强射频磁控溅射技术在Si(111)片和M2钢表面制备了ZrN薄膜,研究了基片的温度和ICP功率对ZrN薄膜的结构以及性能影响.研究发现:在基片温度≤300℃沉积的ZrN薄膜择优取向为(111);基片温度达到450℃时薄膜出现ZrN(200)衍射峰,ZrN(111)晶面的织构系数明显降低.传统磁控溅射沉积薄膜为柱状结构,当ICP为200W,基片温度为300℃时沉积薄膜中柱状晶体消失;随着基片温度的升高,N/Zr元素比例降低,并且薄膜的电阻率下降;相对于传统溅射,ICP增强射频磁控溅射沉积薄膜的结构更加致密,硬度提高,应力降低.
语种中文
CSCD记录号CSCD:3257745
源URL[http://ir.hfcas.ac.cn:8080/handle/334002/50483]  
专题中国科学院合肥物质科学研究院
作者单位1.中国科学院等离子体物理研究所
2.中国科学院等离子体物理研究所
3.中国科学院等离子体物理研究所
4.中国科学院等离子体物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
刘峰,孟月东,任兆杏,等. 感应耦合等离子体增强射频磁控溅射沉积ZrN薄膜及其性能研究[J]. 物理学报,2008,057.
APA 刘峰,孟月东,任兆杏,&舒兴胜.(2008).感应耦合等离子体增强射频磁控溅射沉积ZrN薄膜及其性能研究.物理学报,057.
MLA 刘峰,et al."感应耦合等离子体增强射频磁控溅射沉积ZrN薄膜及其性能研究".物理学报 057(2008).

入库方式: OAI收割

来源:合肥物质科学研究院

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