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HT-7装置低杂波电流驱动逃逸电子行为分析

文献类型:期刊论文

作者卢洪伟2; 胡立群2; 林士耀2; HT7实验组2
刊名核聚变与等离子体物理
出版日期2009
卷号029
关键词低杂波电流驱动 电流密度 逃逸电子
ISSN号0254-6086
其他题名Investigation on the generation of runaway electrons on the HT-7 tokamak with low hybrid current drive
英文摘要用Nal闪烁体探测器组成的逃逸电子诊断系统和CdTe半导体探测阵列组成的快电子轫致辐射诊断系统,研究了一定等离子体密度条件下低杂波功率和等离子体电流对逃逸产生的影响以及一定低杂波功率下等离子体密度对逃逸电子产生的不同作用效果。根据实验数据计算了HT-7装置等离子体中电子逃逸的阈值电场和一定放电条件下电子逃逸的阈值能量。
语种中文
CSCD记录号CSCD:3517311
源URL[http://ir.hfcas.ac.cn:8080/handle/334002/51754]  
专题中国科学院合肥物质科学研究院
作者单位1.中国科学院等离子体物理研究所
2.中国科学院等离子体物理研究所
3.中国科学院等离子体物理研究所
4.中国科学院等离子体物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
卢洪伟,胡立群,林士耀,等. HT-7装置低杂波电流驱动逃逸电子行为分析[J]. 核聚变与等离子体物理,2009,029.
APA 卢洪伟,胡立群,林士耀,&HT7实验组.(2009).HT-7装置低杂波电流驱动逃逸电子行为分析.核聚变与等离子体物理,029.
MLA 卢洪伟,et al."HT-7装置低杂波电流驱动逃逸电子行为分析".核聚变与等离子体物理 029(2009).

入库方式: OAI收割

来源:合肥物质科学研究院

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