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快电子对快离子损失诊断测量的影响

文献类型:期刊论文

作者金钊2; 常加峰2; 黄娟2; 吴承瑞2; 林士耀2
刊名核技术
出版日期2017
卷号40
关键词闪烁体 快离子损失诊断 逃逸电子
ISSN号0253-3219
其他题名The effect of fast electrons on fast ion loss detector
英文摘要基于闪烁体原理的快离子损失探针(Fast Ion Loss Detector, FILD),可以同时测量损失快离子的能量和pitch-angle的值,是核聚变装置中对高能粒子诊断的重要方式。根据先进实验超导托卡马克(Experimental Advanced Superconducting Tokamak, EAST)的发展需求,为了更好地对损失快离子行为进行研究,设计并安装了快离子损失诊断,且探测到在中性束加热条件下产生的损失快离子。同时,探测到在放电中产生的逃逸电子,以及低杂波注入时快电子产生X射线对快离子损失背景信号的影响。并且在H-mode放电时边界扰动也对快离子损失信号产生影响,这些探测到的现象都为不断升级损失诊断系统提供依据。
语种中文
CSCD记录号CSCD:6109473
源URL[http://ir.hfcas.ac.cn:8080/handle/334002/52100]  
专题中国科学院合肥物质科学研究院
作者单位1.中国科学院等离子体物理研究所
2.中国科学院等离子体物理研究所
3.中国科学院等离子体物理研究所
4.中国科学院等离子体物理研究所
5.中国科学院等离子体物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
金钊,常加峰,黄娟,等. 快电子对快离子损失诊断测量的影响[J]. 核技术,2017,40.
APA 金钊,常加峰,黄娟,吴承瑞,&林士耀.(2017).快电子对快离子损失诊断测量的影响.核技术,40.
MLA 金钊,et al."快电子对快离子损失诊断测量的影响".核技术 40(2017).

入库方式: OAI收割

来源:合肥物质科学研究院

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