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PET载体薄膜电阻的断裂原理分析及改进方案

文献类型:期刊论文

作者王贵诚2; 冷用斌2; 孙葆根2; 陶小平2; 何晓业2; 赵枫2; 周耀华2; 刘广俊3; 李广映3; 方蕾3
刊名核技术
出版日期2002
卷号025
关键词薄膜型电阻 结构分析 陶瓷载体 电子直线加速器 断裂原理 PET载体 壁流探测器
ISSN号0253-3219
其他题名Analysing the reason of break - down of film - mode resistor with PET carrier and it's improvement program
英文摘要介绍了薄膜型ns壁流探测器中使用的薄膜电阻片受强辐照后的各项测试结果及简要分析,并提出了防止载体薄膜断裂的改进方案。
语种中文
CSCD记录号CSCD:1002398
源URL[http://ir.hfcas.ac.cn:8080/handle/334002/52167]  
专题中国科学院合肥物质科学研究院
作者单位1.中国科学院安徽光学精密机械研究所
2.中国科学技术大学
3.中国科学技术大学
4.中国科学技术大学
5.中国科学技术大学
6.中国科学技术大学
7.中国科学技术大学
8.中国科学技术大学
9.中国科学院安徽光学精密机械研究所
10.中国科学院安徽光学精密机械研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
王贵诚,冷用斌,孙葆根,等. PET载体薄膜电阻的断裂原理分析及改进方案[J]. 核技术,2002,025.
APA 王贵诚.,冷用斌.,孙葆根.,陶小平.,何晓业.,...&方蕾.(2002).PET载体薄膜电阻的断裂原理分析及改进方案.核技术,025.
MLA 王贵诚,et al."PET载体薄膜电阻的断裂原理分析及改进方案".核技术 025(2002).

入库方式: OAI收割

来源:合肥物质科学研究院

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