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基于量子点荧光淬灭技术的痕量Cu~(2+)检测传感器研究

文献类型:期刊论文

作者郑守国1; 李淼2; 张健2; 胡泽林2
刊名激光杂志
出版日期2013
卷号34
关键词CdTe量子点 重金属检测 荧光淬灭 光化学传感器
ISSN号0253-2743
其他题名Research of trace Cu~(2+) detection sensor based on the quantum dot fluorescence quenching
英文摘要本文设计了一种可用于现场检测的痕量Cu~(2+)传感器, 运用自行研制的光学感知与信号处理模块实现痕量Cu~(2+)的快速检测, 达到了检测仪器的低成本、小型化的目的。实验结果表明, 在Cu~(2+)浓度50-1000nmol/L范围内传感器检测结果具有较好的线性关系, 拟合后的直线方程为Y=0.11869*X+14.47268, 线性度为0.99358, 标准方差为4.63099, 传感器响应时间为50秒, 检测的可重复性较好, 该传感器可以满足痕量Cu~(2+)现场检测的需求。
语种中文
CSCD记录号CSCD:4787339
源URL[http://ir.hfcas.ac.cn:8080/handle/334002/53850]  
专题中国科学院合肥物质科学研究院
作者单位1.中科院安徽光学与精密机械研究所
2.中科院合肥智能机械研究所
3.中科院合肥智能机械研究所
4.中科院合肥智能机械研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
郑守国,李淼,张健,等. 基于量子点荧光淬灭技术的痕量Cu~(2+)检测传感器研究[J]. 激光杂志,2013,34.
APA 郑守国,李淼,张健,&胡泽林.(2013).基于量子点荧光淬灭技术的痕量Cu~(2+)检测传感器研究.激光杂志,34.
MLA 郑守国,et al."基于量子点荧光淬灭技术的痕量Cu~(2+)检测传感器研究".激光杂志 34(2013).

入库方式: OAI收割

来源:合肥物质科学研究院

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