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金刚石薄膜异质外延的研究进展

文献类型:期刊论文

作者王传新1; 汪建华2; 满卫东2; 马志斌2; 王生高1; 康志成1
刊名真空与低温
出版日期2002
卷号008
关键词金刚石薄膜 异质外延 CVD 半导体材料 偏压形核 生长控制 外延生长
ISSN号1006-7086
其他题名Development of researches on heteroepitaxy diamond films
英文摘要主要介绍金刚石薄膜在Si上异质外延的研究状况。综述了外延金刚石薄膜的偏压形核,SiC过渡层的影响及一些实验参数对外延薄膜质量的影响等,并论述了发展方向。
语种中文
CSCD记录号CSCD:1394769
源URL[http://ir.hfcas.ac.cn:8080/handle/334002/95934]  
专题中国科学院合肥物质科学研究院
作者单位1.中国科学院等离子体物理研究所
2.武汉化工学院材料科学与工程系
3.武汉化工学院材料科学与工程系
4.武汉化工学院材料科学与工程系
5.中国科学院等离子体物理研究所
6.中国科学院等离子体物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
王传新,汪建华,满卫东,等. 金刚石薄膜异质外延的研究进展[J]. 真空与低温,2002,008.
APA 王传新,汪建华,满卫东,马志斌,王生高,&康志成.(2002).金刚石薄膜异质外延的研究进展.真空与低温,008.
MLA 王传新,et al."金刚石薄膜异质外延的研究进展".真空与低温 008(2002).

入库方式: OAI收割

来源:合肥物质科学研究院

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