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SiC缓冲层对Si表面生长的ZnO薄膜结构和光电性能的改善

文献类型:期刊论文

作者康朝阳1; 赵朝阳1; 刘峥嵘1; 孙柏2; 唐军1; 徐彭寿1; 谢家纯1
刊名发光学报
出版日期2009
卷号030
关键词ZnO薄膜 Si(111)衬底 SiC缓冲层 光电性能
ISSN号1000-7032
其他题名Improvement of the Structure and Photoelectrical Properties of ZnO Films Based on SiC Buffer Layer Grown on Si(111)
英文摘要用脉冲激光沉积(PLD)技术制备了ZnO/SiC/Si和ZnO/Si薄膜并制成了紫外探测器。利用X射线衍射(XRD),光致发光(PL)谱,I-V曲线和光电响应谱对薄膜的结构和光电性能进行了研究。实验结果表明:SiC缓冲层改善了ZnO薄膜的结晶质量和光电性能,其原因可能是SiC作为柔性衬底能够减少ZnO与Si之间大的晶格失配和热失配导致的界面缺陷和界面态。
语种中文
CSCD记录号CSCD:3784275
源URL[http://ir.hfcas.ac.cn:8080/handle/334002/96590]  
专题中国科学院合肥物质科学研究院
作者单位1.中国科学技术大学
2.中国科学技术大学
3.中国科学技术大学物理系
4.中国科学院合肥智能机械研究所
5.中国科学技术大学
6.中国科学技术大学
7.中国科学技术大学物理系
推荐引用方式
GB/T 7714
康朝阳,赵朝阳,刘峥嵘,等. SiC缓冲层对Si表面生长的ZnO薄膜结构和光电性能的改善[J]. 发光学报,2009,030.
APA 康朝阳.,赵朝阳.,刘峥嵘.,孙柏.,唐军.,...&谢家纯.(2009).SiC缓冲层对Si表面生长的ZnO薄膜结构和光电性能的改善.发光学报,030.
MLA 康朝阳,et al."SiC缓冲层对Si表面生长的ZnO薄膜结构和光电性能的改善".发光学报 030(2009).

入库方式: OAI收割

来源:合肥物质科学研究院

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