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低能离子束对拟南芥诱变将就的研究

文献类型:期刊论文

作者谷运红1; 余增亮1; 秦广2; 雍裕平2
刊名高技术通讯
出版日期2003
卷号13
关键词离子束 拟南芥 诱变效应
ISSN号1002-0470
其他题名Study on Mutation Effect of Low Energy Ion Beam to Arabidopsis
英文摘要依据不同生态型的拟南芥接受不同剂量、不同能量以及不同类型离子的注入,种子成苗率受到的影响程度的不同,选定适合于拟南芥诱变、转化的离子能量和剂量。然后结合RAPD方法检测了离子女注入拟南芥种子在当代和后代中引起的变异情况,结果是离子束在当代中引起DNA水平上丰富的变异,突变频率较高,并且某些变异条带可传递至后代。
语种中文
CSCD记录号CSCD:1236343
源URL[http://ir.hfcas.ac.cn:8080/handle/334002/97520]  
专题中国科学院合肥物质科学研究院
作者单位1.中国科学院等离子体物理研究所
2.中国科学院等离子体物理研究所
3.郑州大学
4.郑州大学
推荐引用方式
GB/T 7714
谷运红,余增亮,秦广,等. 低能离子束对拟南芥诱变将就的研究[J]. 高技术通讯,2003,13.
APA 谷运红,余增亮,秦广,&雍裕平.(2003).低能离子束对拟南芥诱变将就的研究.高技术通讯,13.
MLA 谷运红,et al."低能离子束对拟南芥诱变将就的研究".高技术通讯 13(2003).

入库方式: OAI收割

来源:合肥物质科学研究院

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