退火对CdS／SiO2介孔组装体系吸收边的影响
文献类型：期刊论文
| 作者 | 杨一军1; 阚彩侠2; 毕会娟2; 张立德2 |
| 刊名 | 复合材料学报
 |
| 出版日期 | 2003 |
| 卷号 | 020 |
| 关键词 | Cds纳米颗粒 介孔组装体系 吸收边 |
| ISSN号 | 1000-3851 |
| 其他题名 | Annealing effect on the absorption edge of CdS/SiO_2 mesoporous assembly |
| 英文摘要 | 本文作者通过溶胶一凝胶法获得块材CdS纳米颗粒／介孔SiO2组装体系(CdS／SiO2)块体样品，室温下的拉曼谱中观察到(2dS的两个特征峰；在氮气和空气气氛中退火处理后，发现吸收边位置随复合量和退火温度不同而移动。经计算，CdS颗粒粒径的理论值与其自由激子半径相当，说明吸收边的移动起因于量子限域效应。 |
| 语种 | 中文 |
| CSCD记录号 | CSCD:1304321 |
| 源URL | [http://ir.hfcas.ac.cn:8080/handle/334002/102636]  |
| 专题 | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 作者单位 | 1.安徽淮北煤炭师范学院物理系 2.中科院固体物理研究所 3.中科院固体物理研究所 4.中科院固体物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 杨一军,阚彩侠,毕会娟,等. 退火对CdS／SiO2介孔组装体系吸收边的影响[J]. 复合材料学报,2003,020. |
| APA | 杨一军,阚彩侠,毕会娟,&张立德.(2003).退火对CdS／SiO2介孔组装体系吸收边的影响.复合材料学报,020. |
| MLA | 杨一军,et al."退火对CdS／SiO2介孔组装体系吸收边的影响".复合材料学报 020(2003). |
入库方式： OAI收割
来源：合肥物质科学研究院
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