基于光程差指示的双折射干涉器装调装置及装调方法
文献类型:专利
作者 | 柏财勋; 冯玉涛![]() ![]() ![]() ![]() |
发表日期 | 2019-11-21 |
专利号 | CN201911150499.3 |
著作权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
产权排序 | 1 |
英文摘要 | 本发明涉及一种双折射干涉器装调装置及装调方法,特别涉及一种基于光程差指示的双折射干涉器装调装置及装调方法,解决了现有基于干涉条纹指示的双折射干涉器装调装置及装调方法,难以满足双折射偏振干涉型的高光谱成像装置干涉器装调精度要求的技术问题。该装调装置的特殊之处在于:包括沿光路依次设置的激光光源、扩束系统、散射器、标准起偏器、成像物镜以及探测器;定义:标准起偏器的反射光路方向为x轴正向,标准起偏器的透射光路方向为z轴正向,x轴与z轴所确定平面的法线方向为y轴方向;标准起偏器的透射光偏振方向平行于x轴;探测器位于成像物镜的后焦面处。本发明还提供了一种基于上述装调装置的装调方法。 |
公开日期 | 2020-04-10 |
申请日期 | 2019-11-21 |
语种 | 中文 |
状态 | 申请中 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/93964] ![]() |
专题 | 西安光学精密机械研究所_光学影像学习与分析中心 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 柏财勋,冯玉涛,范文慧,等. 基于光程差指示的双折射干涉器装调装置及装调方法. CN201911150499.3. 2019-11-21. |
入库方式: OAI收割
来源:西安光学精密机械研究所
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