基于双谱段叠层干涉的高光谱成像装置
文献类型：专利
| 作者 | 柏财勋; 范文慧 ; 畅晨光; 李立波; 胡炳樑; 冯玉涛
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| 发表日期 | 2019-11-21 |
| 专利号 | CN201911150506.X |
| 著作权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 产权排序 | 1 |
| 英文摘要 | 本发明涉及一种光谱成像装置，特别涉及一种基于双谱段叠层干涉的高光谱成像装置，解决了现有基于静态干涉分光原理的高光谱成像装置在宽波段探测时，不同谱段间会引入明显波长分辨率差异的问题。该装置特殊之处在于：包括沿光路依次设置的前置成像物镜、光阑、准直物镜、双谱段叠层干涉模块、液晶偏振开关、后置成像物镜及面阵探测器；双谱段叠层干涉模块包括偏振分光棱镜BS、设在偏振分光棱镜BS反射光路的短波剪切器及设在偏振分光棱镜BS透射光路的长波剪切器；液晶偏振开关包括沿光路依次设置的铁电液晶FLC和线偏振器P。在光谱通道数量不变的情况下，本发明不但可以提升长波光谱精细程度，而且可以提升短波信噪比，进而提高光谱复原精度。 |
| 公开日期 | 2020-06-19 |
| 申请日期 | 2019-11-21 |
| 语种 | 中文 |
| 状态 | 申请中 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/93965]  |
| 专题 | 西安光学精密机械研究所_光学影像学习与分析中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 柏财勋,范文慧,畅晨光,等. 基于双谱段叠层干涉的高光谱成像装置. CN201911150506.X. 2019-11-21. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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