基于文献计量的纳米电子学发展态势分析
文献类型：期刊论文
| 作者 | 吕凤先; 刘小平
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| 刊名 | 科学观察
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| 出版日期 | 2019-12 |
| 卷号 | 14期号:6页码:10-19 |
| 关键词 | 纳米电子学 发展态势 文献计量 |
| DOI | DOI: 10.15978/j.cnki.1673-5668.201906002 |
| 英文摘要 | 纳米电子技术成为世界各国发展信息技术以及国民经济的重要技术，在各国政策的推动下，1990年代至今世界纳米电子学得以快速发展。中国在此领域的研究状况、与国际水平之间的差距如何？该文通过文献计量方法对近10年纳米电子学世界和中国的发展现状和趋势进行分析，期望为中国纳米电子学政策的制定和完善提供具有一定参考价值的科学依据。 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://ir.las.ac.cn/handle/12502/11331]  |
| 专题 | 文献情报中心_中国科学院文献情报中心_情报研究部 |
| 通讯作者 | 吕凤先 |
| 作者单位 | 中国科学院文献情报中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 吕凤先,刘小平. 基于文献计量的纳米电子学发展态势分析[J]. 科学观察,2019,14(6):10-19. |
| APA | 吕凤先,&刘小平.(2019).基于文献计量的纳米电子学发展态势分析.科学观察,14(6),10-19. |
| MLA | 吕凤先,et al."基于文献计量的纳米电子学发展态势分析".科学观察 14.6(2019):10-19. |
入库方式： OAI收割
来源：文献情报中心
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