全光固体超快探测芯片和全光固体超快探测器
文献类型：专利
| 作者 | 汪韬 ; 高贵龙; 何凯; 闫欣; 田进寿; 李少辉; 尹飞; 辛丽伟
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| 发表日期 | 2020-04-03 |
| 专利号 | CN201921026323.2 |
| 著作权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 实用新型 |
| 产权排序 | 1 |
| 英文摘要 | 本实用新型提供了一种全光固体超快探测芯片和全光固体超快探测器，解决现有超快诊断设备无法同时具备高时间分辨率、高空间分辨率性能，以及现有电子光学电真空超快诊断设备诊断效果差的问题。其中芯片包括沿入射信号光传输方向依次设置的调制光栅、光学膜系、半导体超快响应材料GaAs/AlGaAs多量子阱结构、第一增透膜、基片及第二增透膜，信号光入射调制光栅，探针光入射第二增透膜；所述光学膜系对信号光进行增透、对探针光进行增反；所述半导体超快响应材料GaAs/AlGaAs多量子阱结构用于探测信号光，并经调制光栅调制，在半导体超快响应材料GaAs/AlGaAs多量子阱结构内部形成与信号光相对应的空间分布图样；所述第一增透膜和第二增透膜对探针光进行增透。 |
| 公开日期 | 2020-04-03 |
| 申请日期 | 2019-07-03 |
| 语种 | 中文 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/94096]  |
| 专题 | 条纹相机工程中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 汪韬,高贵龙,何凯,等. 全光固体超快探测芯片和全光固体超快探测器. CN201921026323.2. 2020-04-03. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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