光电技术在金属内耗测量中的应用
文献类型：会议论文
| 作者 | 肖金泉 ; 李广义 |
| 出版日期 | 1986-10 |
| 会议名称 | 第二届全国光电技术与系统学术会议 |
| 会议日期 | 1986-10 |
| 会议地点 | 天津 |
| 关键词 | 自由振动 光电耦合器件 测量转换器 自动检测 振幅衰减 金属内耗 |
| 中文摘要 | 该文采用一种新型高精度无接触PSD器件作测位转换器，在国内首次用于金属内耗值的测量。实现了自动测量固体材料自由振动衰减过程中，所给定恒振幅衰减过程中振幅检测。测量结构可自动在CRT中显示和μ80行式打印机以数据或图表形式输出。（本刊录） |
| 会议主办者 | 中国光学学会;中国计量测试学会 |
| 会议录 | 第二届全国光电技术与系统学术会议论文集
 |
| 会议录出版者 | 中国光学学会 |
| 会议录出版地 | 北京 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://210.72.142.130/handle/321006/69929]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 肖金泉,李广义. 光电技术在金属内耗测量中的应用[C]. 见:第二届全国光电技术与系统学术会议. 天津. 1986-10. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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