用双探头正电子湮没辐射多普勒展宽装置研究金属中高动量电子的行为
文献类型：会议论文
| 作者 | 邓文 ; 中国科学院国际材料物理中心(沈阳) ; 黄宇阳 ; 吴道宏 ; 罗里熊 ; 熊良钺 ; 中国科学院国际材料物理中心(沈阳) |
| 出版日期 | 2002-06-01 |
| 会议名称 | 第八届全国正电子谱学会议 |
| 会议日期 | 2002-06-01 |
| 会议地点 | 宜昌 |
| 关键词 | 正电子湮没 符合技术 本底 3d电子 晶体缺陷 金属元素 |
| 中文摘要 | 采用双探头符合技术,可大幅度地降低正电子湮没辐射多普勒展宽谱的本底,谱线的本底跟样品与高纯锗探头之间的距离有关:增加距离,可以降低谱线的本底,谱线的本底越低,以单晶Al为参考作出的Ni的商谱越高.元素周期表中第四行过渡元素Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu的商谱的谱峰随原子的3d电子数目的增多而升高,从过渡元素的商谱可获得正电子与原子的3d和3p电子湮没的信息. |
| 会议主办者 | 中国物理学会 |
| 会议录 | 第八届全国正电子谱学会议论文集
 |
| 会议录出版者 | 中国物理学会 |
| 会议录出版地 | 北京 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://210.72.142.130/handle/321006/69962]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 邓文,中国科学院国际材料物理中心(沈阳),黄宇阳,等. 用双探头正电子湮没辐射多普勒展宽装置研究金属中高动量电子的行为[C]. 见:第八届全国正电子谱学会议. 宜昌. 2002-06-01. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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