用EIS测试紫外光对涂层的老化作用
文献类型：会议论文
| 作者 | 徐永祥 ; 严川伟 ; 高延敏 ; 曹楚南 |
| 出版日期 | 2002-10-01 |
| 会议名称 | 全国腐蚀电化学及测试方法专业委员会2002年学术交流会 |
| 会议日期 | 2002-10-01 |
| 会议地点 | 徐州 |
| 关键词 | 紫外光 涂层老化 |
| 中文摘要 | 用人工加速的方法研究了紫外光对涂层的影响.用石英晶体微天平(QCM)测试发现老化后涂层对水和SO<,2>的吸附率明显增大.电化学阻抗(EIS)测定发现孔隙率随光照射时间增加而增大,涂层电阻随光照时间增加而减小.傅利叶变换红外光谱(FTIR)分析表明,光照使涂层分子碳链断裂,醇酸涂层发生在芳香酯的C-O键,聚氨酯涂层发生在芳香酯的C-O键和氨酯键C-N,同时有一些亲水基团生成.用扫描电子显微镜(SEM)观察涂层表面产生了许多孔穴.涂层吸水率增加是由亲水基团增加和孔隙增加共同引起的,但孔隙增加的贡献更大.而涂层对SO<,2>吸附率的增加是由α-H过氧化物和孔隙的增加共同引起的,α-H过氧化物的增加的贡献更大. |
| 会议主办者 | 中国腐蚀与防护学会 |
| 会议录 | 全国腐蚀电化学及测试方法专业委员会2002年学术交流会论文集
 |
| 会议录出版者 | 中国腐蚀与防护学会 |
| 会议录出版地 | 北京 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://210.72.142.130/handle/321006/69982]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 徐永祥,严川伟,高延敏,等. 用EIS测试紫外光对涂层的老化作用[C]. 见:全国腐蚀电化学及测试方法专业委员会2002年学术交流会. 徐州. 2002-10-01. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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