应用场发射扫描电镜表征纳米碳管的微观组织及其元素的定量分析
文献类型：会议论文
| 作者 | 郭延风 ; 朱桂秋 ; 朱祖铭 |
| 出版日期 | 2003-11-02 |
| 会议名称 | 第二届全国扫描电子显微学会议 |
| 会议日期 | 2003-11-02 |
| 会议地点 | 珠海 |
| 关键词 | 纳米碳管 微观组织 扫描电镜 定量分析 |
| 中文摘要 | 冷场发射电子枪在低电压下仍保持着较高的分辨率.本文研究应用场发射扫描电镜表征纳米碳管的微观组织及其元素的定量分析. |
| 会议主办者 | 中国物理学会 |
| 会议录 | 电子显微学报2003第22卷第6期
 |
| 会议录出版者 | 电子显微学报编辑部 |
| 会议录出版地 | 北京 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://210.72.142.130/handle/321006/70110]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 郭延风,朱桂秋,朱祖铭. 应用场发射扫描电镜表征纳米碳管的微观组织及其元素的定量分析[C]. 见:第二届全国扫描电子显微学会议. 珠海. 2003-11-02. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。