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采用正交法研究金刚石偏压形核

文献类型:期刊论文

刊名材料开发与应用
出版日期2003
卷号018
关键词偏压形核 化学气相沉积 正交试验 金刚石 微波等离子体 单晶硅衬底 薄膜
ISSN号1003-1545
其他题名Study on Bias-enhanced Nucleation of Diamond Using Orthogonal Method
英文摘要在微波等离子体化学气相沉积装置中,采用正交试验法研究金刚石在镜面抛光的Si(100)面上的偏压形核过程中,形核时间、偏压电压、气压及甲烷浓度对形核密度的影响,研究结果表明:形核密度随形核时间的增加而增加,适中的偏压电压和沉积气压有利于金刚石的形核,而甲烷浓度的影响很小。正交试验所得的最佳形核条件为偏压-150V;时间12min;气压4kPa;CH4比率5%,在该条件下金刚石的形核密度达到10^10个/cm^2。
语种中文
CSCD记录号CSCD:1375564
源URL[http://ir.hfcas.ac.cn:8080/handle/334002/61123]  
专题中国科学院合肥物质科学研究院
推荐引用方式
GB/T 7714
. 采用正交法研究金刚石偏压形核[J]. 材料开发与应用,2003,018.
APA (2003).采用正交法研究金刚石偏压形核.材料开发与应用,018.
MLA "采用正交法研究金刚石偏压形核".材料开发与应用 018(2003).

入库方式: OAI收割

来源:合肥物质科学研究院

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