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射频偏置ECR-PECVD等离子体参数测量

文献类型:期刊论文

刊名核聚变与等离子体物理
出版日期2004
卷号024
关键词射频偏置 ECR-PECVD 双探针 电子温度 等离子体密度 微波功率 磁场电流
ISSN号0254-6086
其他题名Measurement of plasma parameters in rf-biased ECR-PECVD
英文摘要利用双探针对ECR-PECVD装置中基片在射频偏置下的等离子体参数进行了测量。同时测量了在射频偏置下微波功率、磁场电流、进气量等参数对ECR-PECVD等离子体参数的影响。结果表明,在ECR-PECVD等离子体装置中,基片射频偏置对电子温度有影响,而等离子体密度主要由微波功率所决定。
语种中文
CSCD记录号CSCD:1509104
源URL[http://ir.hfcas.ac.cn:8080/handle/334002/60771]  
专题中国科学院合肥物质科学研究院
推荐引用方式
GB/T 7714
. 射频偏置ECR-PECVD等离子体参数测量[J]. 核聚变与等离子体物理,2004,024.
APA (2004).射频偏置ECR-PECVD等离子体参数测量.核聚变与等离子体物理,024.
MLA "射频偏置ECR-PECVD等离子体参数测量".核聚变与等离子体物理 024(2004).

入库方式: OAI收割

来源:合肥物质科学研究院

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