VUV信号强度与等离子体宏观参数相关性分析
文献类型:期刊论文
刊名 | 强激光与粒子束
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出版日期 | 2018 |
卷号 | 030 |
关键词 | VUV成像 中性束 等离子体 杂质水平 |
ISSN号 | 1001-4322 |
其他题名 | Correlation of VUV intensity and basic plasma parameters |
英文摘要 | 东方超环( EA S T) 上高速真空紫外( VUV) 成像系统是一套选择性测量中心波长为1 3. 5n m 的等离子体线辐射的光学成像系统.此系统具有高时空分辨能力, 主要用于边界( 包括台基区) 等离子体行为研究.该系统已经投入EA S T等离子体物理实验并获得了大量的实验数据.基于这些数据, 分析了 VUV诊断系统的信号强度与等离子体宏观参数之间的相关性, 着重研究了 EA S T上中性束注入( N B I ) 加热功率、 杂质( 碳和锂) 水平、 电子密度等因素对 VUV信号强度的影响.结果与预期基本一致: 随着 N B I功率的增加, VUV信号强度随之增强; VUV 信号强度与电子密度、 杂质水平呈现线性关系.此外, 本文还评估了由于 N B I注入引起的电荷交换复合产生的C 5+离子对 VUV信号的贡献, 结果表明这部分贡献可以忽略不计. |
语种 | 中文 |
CSCD记录号 | CSCD:6211336 |
源URL | [http://ir.hfcas.ac.cn:8080/handle/334002/59455] ![]() |
专题 | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | . VUV信号强度与等离子体宏观参数相关性分析[J]. 强激光与粒子束,2018,030. |
APA | (2018).VUV信号强度与等离子体宏观参数相关性分析.强激光与粒子束,030. |
MLA | "VUV信号强度与等离子体宏观参数相关性分析".强激光与粒子束 030(2018). |
入库方式: OAI收割
来源:合肥物质科学研究院
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