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Technology life cycle analysis method based on patent documents
文献类型：期刊论文
| 作者 | Xian Zhang(张娴) ; Xian Zhang(张娴); Xian Zhang(张娴)
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| 刊名 | technological forecasting & social change 80 (2013) 398–407
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| 出版日期 | 2013 |
| 期号 | 80页码:398-407 |
| 关键词 | Technology life cycle Patent Indicator Cathode ray tube Thin film transistor liquid crystal display Nano-biosensor |
| 学科主题 | 情报研究 ; 情报研究理论与方法 |
| WOS记录号 | WOS:000316510300003 |
| 公开日期 | 2013-09-15 |
| 源URL | [http://ir.las.ac.cn/handle/12502/6268]  |
| 专题 | 文献情报中心_中国科学院成都文献情报中心_情报研究部 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Xian Zhang,Xian Zhang,Xian Zhang. Technology life cycle analysis method based on patent documents[J]. technological forecasting & social change 80 (2013) 398–407,2013(80):398-407. |
| APA | Xian Zhang,Xian Zhang,&Xian Zhang.(2013).Technology life cycle analysis method based on patent documents.technological forecasting & social change 80 (2013) 398–407(80),398-407. |
| MLA | Xian Zhang,et al."Technology life cycle analysis method based on patent documents".technological forecasting & social change 80 (2013) 398–407 .80(2013):398-407. |
入库方式： OAI收割
来源：文献情报中心
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