基于耦合光腔衰荡技术的高反射率测量
文献类型：期刊论文
| 作者 | 杜星湖; 薛颖; 何星; 王帅; 杨平; 许冰 |
| 刊名 | 中国激光
 |
| 出版日期 | 2020-06-10 |
| 卷号 | 47期号:6页码:222-226 |
| 关键词 | 测量 光腔衰荡技术 高反射率测量 耦合光腔衰荡技术 基横模 |
| ISSN号 | 0258-7025 |
| DOI | 10.3788/CJL202047.0604006 |
| 文献子类 | 期刊论文 |
| 英文摘要 | 为提升光腔衰荡高反射率测量技术的精度,提出了一种基于耦合光腔衰荡技术的高反射率测量方法。该方法在耦合光腔衰荡系统中引入衰荡腔腔内模式监测模块,以腔内运行模式为判据寻找初始腔和测试腔耦合效率一致的状态,从而实现更高的测量精度。实验结果表明:在确保腔内模式处于基横模状态时,初始腔和测试腔腔内的等效损耗降低值几乎一致;对于同一高反射率待测样片,该技术对比传统方法可实现10.0%～27.1%测量精度的提升。 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/9994]  |
| 专题 | 光电技术研究所_自适应光学技术研究室（八室） |
| 作者单位 | 1.中国科学院大学 2.中国科学院光电技术研究所 3.中国科学院自适应光学重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 杜星湖,薛颖,何星,等. 基于耦合光腔衰荡技术的高反射率测量[J]. 中国激光,2020,47(6):222-226. |
| APA | 杜星湖,薛颖,何星,王帅,杨平,&许冰.(2020).基于耦合光腔衰荡技术的高反射率测量.中国激光,47(6),222-226. |
| MLA | 杜星湖,et al."基于耦合光腔衰荡技术的高反射率测量".中国激光 47.6(2020):222-226. |
入库方式： OAI收割
来源：光电技术研究所
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