拉普拉斯算法在荧光靶光斑位置测量中的应用
文献类型：期刊论文
| 作者 | 华永祥; 龚培荣 |
| 刊名 | 核技术
 |
| 出版日期 | 2019 |
| 卷号 | 42期号:08页码:5-9 |
| 关键词 | 同步辐射 荧光靶 图像处理 拉普拉斯增强 |
| 文献子类 | 期刊论文 |
| 英文摘要 | 在同步辐射光源中,荧光靶探测器是一种重要的光斑观测装置,通过荧光靶图像可以对光斑位置进行测量,但光斑弥散导致图像中光斑的边缘变模糊,会对测量结果带来一定影响。为了提高荧光靶探测器的准确性,本文使用拉普拉斯算子对荧光靶图像进行增强处理,再结合图像的阈值分割法找到光斑的边缘位置,从而实现对光斑的定位。经测试,该方法能准确地从图像中提取光斑并计算光斑的中心位置,比用canny算子方法界定的光斑边缘更接近实际情况,对提高荧光靶探测器的位置测量分辨率有一定的帮助。 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/32372]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2011-2017年 |
| 作者单位 | 1.中国科学院上海应用物理研究所 2.中国科学院上海高等研究院 3.中国科学院大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 华永祥,龚培荣. 拉普拉斯算法在荧光靶光斑位置测量中的应用[J]. 核技术,2019,42(08):5-9. |
| APA | 华永祥,&龚培荣.(2019).拉普拉斯算法在荧光靶光斑位置测量中的应用.核技术,42(08),5-9. |
| MLA | 华永祥,et al."拉普拉斯算法在荧光靶光斑位置测量中的应用".核技术 42.08(2019):5-9. |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
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