软X射线荧光吸收谱测试方法的建立与应用
文献类型:期刊论文
作者 | 陈振华; 李俊琴; 赵子龙; 桑卓成; 邹鹰; 王勇; 邰仁忠 |
刊名 | 光学学报 |
出版日期 | 2019 |
卷号 | 39期号:03页码:395-402 |
关键词 | X射线光学 荧光光谱 同步辐射 近边吸收结构 软X射线 硅漂移探测器 |
文献子类 | 期刊论文 |
英文摘要 | 提出了一种软X射线荧光吸收谱测试方法。该方法克服了软X射线荧光产率低的问题,消除了荧光自吸收效应,采用部分荧光产额模式获得了材料的软X射线近边吸收结构。使用部分荧光产额模式对钙钛矿太阳能电池的埋藏元素、催化剂的低浓度元素,以及宽禁带半导体进行软X射线近边吸收谱研究。相比全电子产额模式,基于荧光产额模式的软X射线近边吸收结构在材料体相特性、不良导体和低浓度样品测试中更具优势。 |
语种 | 中文 |
源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/32396] |
专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2011-2017年 |
作者单位 | 1.中国科学院上海应用物理研究所上海同步辐射光源 2.东华大学理学院 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈振华,李俊琴,赵子龙,等. 软X射线荧光吸收谱测试方法的建立与应用[J]. 光学学报,2019,39(03):395-402. |
APA | 陈振华.,李俊琴.,赵子龙.,桑卓成.,邹鹰.,...&邰仁忠.(2019).软X射线荧光吸收谱测试方法的建立与应用.光学学报,39(03),395-402. |
MLA | 陈振华,et al."软X射线荧光吸收谱测试方法的建立与应用".光学学报 39.03(2019):395-402. |
入库方式: OAI收割
来源:上海应用物理研究所
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