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A Beam Profile Monitor for High Energy Proton Beams Using Microfabrication Techniques

文献类型:会议论文

作者I.M. Mateu; W. Farabolini; A. Gilardi; B. Gkotse; A. Mapelli;  V. Meskova; G. Pezzullo; F. Ravotti; O. Sidiropoulou
出版日期2020
会议日期2020
会议地点Brazil
会议录9th International Beam Instrumentation Conference 2020
源URL[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/288545]  
专题高能物理研究所_学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_IBIC
作者单位CERN, Geneva, Switzerland
推荐引用方式
GB/T 7714
I.M. Mateu,W. Farabolini,A. Gilardi,et al. A Beam Profile Monitor for High Energy Proton Beams Using Microfabrication Techniques[C]. 见:. Brazil. 2020.

入库方式: OAI收割

来源:高能物理研究所

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