Photoinjector Driver Laser Temporal Shaping and Diagnostics for Shanghai Soft X-ray Free Electron Laser
文献类型：会议论文
| 作者 | C.L. Li; X.T. Wang; W.Y. Zhang |
| 出版日期 | 2020 |
| 会议日期 | 2020 |
| 会议地点 | Brazil |
| 会议录 | 9th International Beam Instrumentation Conference 2020
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| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/288573]  |
| 专题 | 高能物理研究所_学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_IBIC |
| 作者单位 | Shanghai Advanced Research Institute, Pudong, Shanghai, People’s Republic of China |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | C.L. Li,X.T. Wang,W.Y. Zhang. Photoinjector Driver Laser Temporal Shaping and Diagnostics for Shanghai Soft X-ray Free Electron Laser[C]. 见:. Brazil. 2020. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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