Fast and Robust Wire Scanners with Novel Materials for Profiling High Intensity Beams
文献类型：会议论文
| 作者 | G. Andonian; T.J. Campese; A. Laurich; M. Ruelas |
| 出版日期 | 2019 |
| 会议日期 | 2019 |
| 会议地点 | Sweden |
| 会议录 | Proceedings of the 8th International Beam Instrumentation Conference
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| 语种 | 英语 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/288697]  |
| 专题 | 高能物理研究所_学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_IBIC |
| 作者单位 | RadiaBeam, Marina del Rey, California, USA |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | G. Andonian,T.J. Campese,A. Laurich,et al. Fast and Robust Wire Scanners with Novel Materials for Profiling High Intensity Beams[C]. 见:. Sweden. 2019. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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