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电弧离子镀Ti(CxN1—x)薄膜的结构和力学性能研究

文献类型:期刊论文

作者李明升; 王福会; 孙超; 蒋长荣; 闻立时
刊名材料保护
出版日期2002
卷号35.0期号:012页码:10-12
关键词电弧离子镀 Ti(CxN1-x)薄膜 结构 力学性能 研究 电弧
ISSN号1001-1560
英文摘要利用电弧离子镀设备,沉积了不同C、N比的Ti(CxN1-x)薄膜,研究了C含量对Ti(CxN1-x)薄膜的结构(相结构、择优取向及晶格常数)及力学性能(硬度、膜基结合强度及抗磨损性能)的影响。结果表明,复合镀层的C、N比随CH4、H2流量之比而变化,但原子百分数之和基本不变(约46.5%)。复合镀层结构致密,与基体结合良好,抗磨和切削性能优于TiC和TiN镀层。
语种中文
CSCD记录号CSCD:1030085
源URL[http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/144260]  
专题金属研究所_中国科学院金属研究所
作者单位中国科学院金属研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
李明升,王福会,孙超,等. 电弧离子镀Ti(CxN1—x)薄膜的结构和力学性能研究[J]. 材料保护,2002,35.0(012):10-12.
APA 李明升,王福会,孙超,蒋长荣,&闻立时.(2002).电弧离子镀Ti(CxN1—x)薄膜的结构和力学性能研究.材料保护,35.0(012),10-12.
MLA 李明升,et al."电弧离子镀Ti(CxN1—x)薄膜的结构和力学性能研究".材料保护 35.0.012(2002):10-12.

入库方式: OAI收割

来源:金属研究所

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