电弧离子镀Ti(CxN1—x)薄膜的结构和力学性能研究
文献类型:期刊论文
作者 | 李明升; 王福会; 孙超; 蒋长荣; 闻立时 |
刊名 | 材料保护
![]() |
出版日期 | 2002 |
卷号 | 35.0期号:012页码:10-12 |
关键词 | 电弧离子镀 Ti(CxN1-x)薄膜 结构 力学性能 研究 电弧 |
ISSN号 | 1001-1560 |
英文摘要 | 利用电弧离子镀设备,沉积了不同C、N比的Ti(CxN1-x)薄膜,研究了C含量对Ti(CxN1-x)薄膜的结构(相结构、择优取向及晶格常数)及力学性能(硬度、膜基结合强度及抗磨损性能)的影响。结果表明,复合镀层的C、N比随CH4、H2流量之比而变化,但原子百分数之和基本不变(约46.5%)。复合镀层结构致密,与基体结合良好,抗磨和切削性能优于TiC和TiN镀层。 |
语种 | 中文 |
CSCD记录号 | CSCD:1030085 |
源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/144260] ![]() |
专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
作者单位 | 中国科学院金属研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 李明升,王福会,孙超,等. 电弧离子镀Ti(CxN1—x)薄膜的结构和力学性能研究[J]. 材料保护,2002,35.0(012):10-12. |
APA | 李明升,王福会,孙超,蒋长荣,&闻立时.(2002).电弧离子镀Ti(CxN1—x)薄膜的结构和力学性能研究.材料保护,35.0(012),10-12. |
MLA | 李明升,et al."电弧离子镀Ti(CxN1—x)薄膜的结构和力学性能研究".材料保护 35.0.012(2002):10-12. |
入库方式: OAI收割
来源:金属研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。