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铝化物金属间化合物中自由电子密度,微观缺陷及其键组成

文献类型:期刊论文

作者邓文; 熊良钺; 曹名洲; 王淑荷; 郭建亭; 龙期威
刊名中国科学:A辑
出版日期2000
卷号30.0期号:010页码:940-945
关键词金属间化合物 正电子寿命 自由电子密度
ISSN号1006-9232
英文摘要通过测量Ni50Al50,Ti50Al50,Fe60Al40,Fe72AL28合金和高定向石墨晶体的正电子寿命谱参数,分别计算了这些样品基体和缺陷态的自由电子密度。结果表明,合金基体的自由电子密度较低,合金中金属键和共价键共存,以具有确定键组成的石墨晶体作为参照,计算了这些合金中分别参与形成金属键和共价键的价电子数占总价电子数的百分比,不同的合金中分别参与形成金属键和共价键的价电子数占总价电子数的
语种中文
CSCD记录号CSCD:652762
源URL[http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/145518]  
专题金属研究所_中国科学院金属研究所
作者单位中国科学院金属研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
邓文,熊良钺,曹名洲,等. 铝化物金属间化合物中自由电子密度,微观缺陷及其键组成[J]. 中国科学:A辑,2000,30.0(010):940-945.
APA 邓文,熊良钺,曹名洲,王淑荷,郭建亭,&龙期威.(2000).铝化物金属间化合物中自由电子密度,微观缺陷及其键组成.中国科学:A辑,30.0(010),940-945.
MLA 邓文,et al."铝化物金属间化合物中自由电子密度,微观缺陷及其键组成".中国科学:A辑 30.0.010(2000):940-945.

入库方式: OAI收割

来源:金属研究所

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