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点蚀形核机制的透射电子显微学研究

文献类型:期刊论文

作者张波; 马秀良
刊名中国材料进展
出版日期2018
卷号37.0期号:011页码:866-878
关键词点蚀 结构缺陷 钝化膜 透射电子显微学 原子尺度
ISSN号1674-3962
其他题名TEM Study on the Pitting Initiation
英文摘要钝性金属材料的点蚀是腐蚀领域中的经典问题。受研究手段空间分辨率的限制,点蚀形核阶段的机制有待进一步阐明。以透射电子显微技术为主要研究手段,围绕与点蚀形核密切相关的材料基体结构特征及钝化膜性质两方面,阐明了点蚀形核的基体结构相关性以及钝化膜结构及与Cl-的交互作用这两大基本科学问题。在原子尺度下建立了材料基体结构特征与腐蚀溶解活性之间的关联,揭示了钝化膜的结构特征和Cl-与之交互作用之间的内在规律,丰富、完善甚至修正了材料点蚀形核机制方面的经典认识。研究发现,在点蚀形核初期,无论是基体中夹杂或第二相的腐蚀溶解活性,还是表面钝化膜本身的击破,起源都可以追溯到原子尺度的结构缺陷。
语种中文
CSCD记录号CSCD:6393429
源URL[http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/147284]  
专题金属研究所_中国科学院金属研究所
作者单位中国科学院金属研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
张波,马秀良. 点蚀形核机制的透射电子显微学研究[J]. 中国材料进展,2018,37.0(011):866-878.
APA 张波,&马秀良.(2018).点蚀形核机制的透射电子显微学研究.中国材料进展,37.0(011),866-878.
MLA 张波,et al."点蚀形核机制的透射电子显微学研究".中国材料进展 37.0.011(2018):866-878.

入库方式: OAI收割

来源:金属研究所

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