温度、pH和Cl^-浓度对NiTi形状记忆合金电化学行为的影响
文献类型：期刊论文
| 作者 | 李年杏; 王俭秋; 韩恩厚; 柯伟 |
| 刊名 | 中国腐蚀与防护学报
 |
| 出版日期 | 2006 |
| 卷号 | 26.0期号:004页码:202-206 |
| 关键词 | NiTi形状记忆合金 动电位扫描 正交试验法 生物相容性 |
| ISSN号 | 1005-4537 |
| 其他题名 | EFFECTS OF TEMPERATURE, Cl^- CONCENTRATION AND pH ON ELECTROCHEMICAL BEHAVIOR OF NiTi SHAPE MEMORY ALLOY |
| 英文摘要 | 通过正交试验法，采用动电位扫描技术研究了温度、pH和Cl^-浓度对NiTi形状记忆合金在模拟口腔溶液中电化学行为的影响．结果表明温度、pH和Cl^-浓度对NiTi的点蚀行为都有较大影响．溶液温度为25℃时点蚀电位最负。随着温度的升高，点蚀电位逐渐升高．溶液中的Cl^-浓度很低时（不超过0．1mol／L）点蚀电位较高，随着CL^-1浓度的增加，点蚀电位急剧下降．当溶液的pH为6．0时，点蚀电位最高． |
| 语种 | 中文 |
| CSCD记录号 | CSCD:2416246 |
| 源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/149605]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 作者单位 | 中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李年杏,王俭秋,韩恩厚,等. 温度、pH和Cl^-浓度对NiTi形状记忆合金电化学行为的影响[J]. 中国腐蚀与防护学报,2006,26.0(004):202-206. |
| APA | 李年杏,王俭秋,韩恩厚,&柯伟.(2006).温度、pH和Cl^-浓度对NiTi形状记忆合金电化学行为的影响.中国腐蚀与防护学报,26.0(004),202-206. |
| MLA | 李年杏,et al."温度、pH和Cl^-浓度对NiTi形状记忆合金电化学行为的影响".中国腐蚀与防护学报 26.0.004(2006):202-206. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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