低辐射薄膜TiO2—Ag—TiO2—SiO的纳米尺度显微结构
文献类型：期刊论文
| 作者 | 詹倩; 于荣; 贺连龙; 李斗星; 郭晓楠 |
| 刊名 | 金属学报
 |
| 出版日期 | 2001 |
| 卷号 | 37.0期号:004页码:337-339 |
| 关键词 | 低辐射薄膜 微观结构 HREM 纳米束分析 |
| ISSN号 | 0412-1961 |
| 英文摘要 | 成功地制务了TiO2-Ag-TiO2-SiO超薄多层膜的截面样品，并对其微观结构进行TEM，HREM及纳米束EDS分析，结果表明，薄膜各层厚度均匀，界面明锐、光滑。Ag层由纳米晶组成，而TiO2和SiO层为非晶。Ag在膜层中没有扩散或聚团，这也正是保证整个薄膜性能指标的一一个重要因素。 |
| 语种 | 中文 |
| CSCD记录号 | CSCD:675805 |
| 源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/151341]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 作者单位 | 中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 詹倩,于荣,贺连龙,等. 低辐射薄膜TiO2—Ag—TiO2—SiO的纳米尺度显微结构[J]. 金属学报,2001,37.0(004):337-339. |
| APA | 詹倩,于荣,贺连龙,李斗星,&郭晓楠.(2001).低辐射薄膜TiO2—Ag—TiO2—SiO的纳米尺度显微结构.金属学报,37.0(004),337-339. |
| MLA | 詹倩,et al."低辐射薄膜TiO2—Ag—TiO2—SiO的纳米尺度显微结构".金属学报 37.0.004(2001):337-339. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。