Cr2Ta中层错的Z衬度像研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 吴元元; 朱银莲; 叶恒强 |
| 刊名 | 电子显微学报
 |
| 出版日期 | 2007 |
| 卷号 | 26.0期号:005页码:419-422 |
| 关键词 | Cr2Ta Z衬度像 层错 高分辨像 |
| ISSN号 | 1000-6281 |
| 其他题名 | Z-contrast imaging investigation of stacking faults in Cr2Ta Laves phase |
| 英文摘要 | 本文利用高角环形暗场成像技术获得六角Cr2Ta Laves相的重原子分辨的原子序数（Z）衬度像,阐述了在相近分辨率情况下Z衬度成像技术与普通高分辨像相比具有一定优势。从所得到Cr2Ta的层错的Z衬度像,直观地解释了层错的原子排列构型,为理解复杂结构中缺陷的原子构型提供了资料。 |
| 语种 | 中文 |
| CSCD记录号 | CSCD:2929143 |
| 源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/153541]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 作者单位 | 中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 吴元元,朱银莲,叶恒强. Cr2Ta中层错的Z衬度像研究[J]. 电子显微学报,2007,26.0(005):419-422. |
| APA | 吴元元,朱银莲,&叶恒强.(2007).Cr2Ta中层错的Z衬度像研究.电子显微学报,26.0(005),419-422. |
| MLA | 吴元元,et al."Cr2Ta中层错的Z衬度像研究".电子显微学报 26.0.005(2007):419-422. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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