Laves相Cr2 Nb中棱锥面层错结构的像差矫正电子显微学分析
文献类型：期刊论文
| 作者 | 章炜; 杜奎; 盛立远; 叶恒强 |
| 刊名 | 电子显微学报
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| 出版日期 | 2013 |
| 卷号 | 32.0期号:004页码:279-283 |
| 关键词 | Laves相 金属间化合物 Cr2Nb 层错 像差矫正高分辨透射电镜 |
| ISSN号 | 1000-6281 |
| 其他题名 | Aberration-corrected high-resolution transmission electron microscopy investigation of stacking faults on pyramidal planes in C14 Laves phase Cr2 Nb |
| 英文摘要 | 本文利用像差矫正透射电子显微镜,在具有C14结构的Laves相Cr2Nb中观察到两种新型的（1101）棱锥面层错结构,并对这些层错的精细构型进行了分析。结果表明：这两种棱锥面层错具有形状特异的结构单元,同时原有的Laves相中的原子配位数也发生改变,在其中一种层错内还形成了拓扑密堆相中不常见的13配位数。这两种新的堆垛方式丰富了对拓扑密堆相中缺陷结构的认识。 |
| 语种 | 中文 |
| CSCD记录号 | CSCD:4924000 |
| 源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/155114]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 作者单位 | 中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 章炜,杜奎,盛立远,等. Laves相Cr2 Nb中棱锥面层错结构的像差矫正电子显微学分析[J]. 电子显微学报,2013,32.0(004):279-283. |
| APA | 章炜,杜奎,盛立远,&叶恒强.(2013).Laves相Cr2 Nb中棱锥面层错结构的像差矫正电子显微学分析.电子显微学报,32.0(004),279-283. |
| MLA | 章炜,et al."Laves相Cr2 Nb中棱锥面层错结构的像差矫正电子显微学分析".电子显微学报 32.0.004(2013):279-283. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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