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退火温度对纳米TiO2薄膜微结构的影响

文献类型:期刊论文

作者胡晓云 ; 李婷 ; 张德恺 ; 白晋涛 ; 侯洵
刊名电子元件与材料
出版日期2005
卷号24期号:7页码:12-16
ISSN号1001-2028
通讯作者胡晓云
学科主题电子技术
公开日期2010-01-12
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/6788]  
专题西安光学精密机械研究所_瞬态光学技术国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
胡晓云,李婷,张德恺,等. 退火温度对纳米TiO2薄膜微结构的影响[J]. 电子元件与材料,2005,24(7):12-16.
APA 胡晓云,李婷,张德恺,白晋涛,&侯洵.(2005).退火温度对纳米TiO2薄膜微结构的影响.电子元件与材料,24(7),12-16.
MLA 胡晓云,et al."退火温度对纳米TiO2薄膜微结构的影响".电子元件与材料 24.7(2005):12-16.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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