Y2O3稳定ZrO2材料的电导活化能
文献类型:期刊论文
作者 | 谢裕生2; 唐子龙1; 陈运法2![]() |
刊名 | 无机材料学报
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出版日期 | 2002 |
卷号 | 17.0期号:004页码:811 |
关键词 | ZrO2基固体电解质 离子电导率 电导活化能 缺陷缔合 二氧化锆 氧化钇 |
ISSN号 | 1000-324X |
英文摘要 | 在313-473K温度范围内测定了一种Y2O3稳定ZrO2材料(YSZ)的交流电导率谱,进而导出了材料的直流电导率并分析了其随温度的变化关系。研究发现:在低温下材料的电导尖化能随温度的升高而增大。这一实验现象与在高温下所观察到的活化能随温度升高而降低规律截然相反。通过分析材料中氧空位的解缔及迁移机制,对YSZ材料中电导活化能随温度的变化关系作出了一个合理的解释。 |
语种 | 英语 |
源URL | [http://ir.ipe.ac.cn/handle/122111/47101] ![]() |
专题 | 中国科学院过程工程研究所 |
作者单位 | 1.清华大学 2.中国科学院过程工程研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 谢裕生,唐子龙,陈运法,等. Y2O3稳定ZrO2材料的电导活化能[J]. 无机材料学报,2002,17.0(004):811. |
APA | 谢裕生,唐子龙,陈运法,张中太,李英,&龚江宏.(2002).Y2O3稳定ZrO2材料的电导活化能.无机材料学报,17.0(004),811. |
MLA | 谢裕生,et al."Y2O3稳定ZrO2材料的电导活化能".无机材料学报 17.0.004(2002):811. |
入库方式: OAI收割
来源:过程工程研究所
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