一种激子分子产生率的测量平台和测量方法
文献类型：专利
| 作者 | 黄善杰;; 王岭雪; 许方宇 ; 蔡毅
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| 发表日期 | 2021-05-04 |
| 专利号 | ZL202011545591.2 |
| 著作权人 | 中国科学院云南天文台 ; 北京理工大学 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明 |
| 产权排序 | 1 |
| 英文摘要 | 本发明涉及一种激子分子产生率的测量平台和测量方法，该平台包括真空腔体，真空腔体内置有电子束发生系统，电子束发生系统前端设有阳极靶面，阳极靶面为中心有圆孔的金属板，阳极靶面中心孔装有水平放置的圆柱形液氮冷却装置，装置一个圆形端面设有凹井结构，凹井深度与阳极靶面金属板厚度相同。凹井外侧使用导电、导热硅胶安装于阳极金属板的中心孔内且凹井端面与阳极靶面金属板表面平齐。半导体材料柱侧和背面采用导热/导电硅胶固定在凹井内。电子束发生系统产生的电子束正好完全覆盖半导体材料的圆形表面，且配有电子束流量检测装置。本发明提出一种激子分子产生率的测量平台和测量方法，能够实测半导体发光材料的激子分子产生率。 |
| 学科主题 | 电子、通信与自动控制技术 |
| 公开日期 | 2021-05-04 |
| 申请日期 | 2020-12-24 |
| 语种 | 中文 |
| 状态 | 公开 |
| 源URL | [http://ir.ynao.ac.cn/handle/114a53/24295]  |
| 专题 | 天文技术实验室 |
| 作者单位 | 中国科学院云南天文台, 云南省昆明市官渡区羊方旺396号 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 黄善杰;,王岭雪,许方宇,等. 一种激子分子产生率的测量平台和测量方法. ZL202011545591.2. 2021-05-04. |
入库方式： OAI收割
来源：云南天文台
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