采用DDS的近场扫描光学显微镜探针-样品的纳米距离检测
文献类型：期刊论文
| 作者 | 白永林
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| 刊名 | 光子学报
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| 出版日期 | 2005 |
| 卷号 | 34期号:5页码:726-729 |
| 关键词 | 直接数字合成( DDS) 近场扫描光学显微镜 压电传感器 近场距离 |
| ISSN号 | 1004-4213 |
| 通讯作者 | 冯晓强 |
| 学科主题 | 光学 |
| 收录类别 | EI |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-01-12 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/6906]  |
| 专题 | 西安光学精密机械研究所_瞬态光学技术国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 白永林. 采用DDS的近场扫描光学显微镜探针-样品的纳米距离检测[J]. 光子学报,2005,34(5):726-729. |
| APA | 白永林.(2005).采用DDS的近场扫描光学显微镜探针-样品的纳米距离检测.光子学报,34(5),726-729. |
| MLA | 白永林."采用DDS的近场扫描光学显微镜探针-样品的纳米距离检测".光子学报 34.5(2005):726-729. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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