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一种用于同步辐射X光衍射面探测器的样品切光装置

文献类型:专利

作者柳义; 文闻; 阴广志; 高兴宇
发表日期2017-04-26
专利号CN106596606A
著作权人中国科学院上海应用物理研究所
国家中国
文献子类发明专利
英文摘要

本发明提供一种用于同步辐射X光衍射面探测器的样品切光装置,包括:一安装在面探测器的直通光束阻挡片上并与一外围控制计算机连接的光电二极管;以及一安装在所述光电二极管前面的X光衰减片。该装置还包括一套设于所述光电二极管上的套子,且所述X光衰减片安装于所述套子的前端。本发明在对样品的切光过程中采用所述光电二极管代替衍射仪自带的点探测器,简化了使用面探测器进行X光反射式衍射测试的实验步骤,节省了时间,提高了实验的效率。

公开日期2017-04-26
申请日期2016-12-21
语种中文
源URL[http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/33603]  
专题上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2011-2017年
推荐引用方式
GB/T 7714
柳义,文闻,阴广志,等. 一种用于同步辐射X光衍射面探测器的样品切光装置. CN106596606A. 2017-04-26.

入库方式: OAI收割

来源:上海应用物理研究所

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