基于线阵CCD交汇测量的立靶参数测试装置及其调试方法
文献类型：专利
| 作者 | 李翔宇; 丁璐; 朱建国; 李哲; 李治国 ; 刘德宏
|
| 发表日期 | 2021-03-19 |
| 专利号 | CN202010237263.X |
| 著作权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 产权排序 | 1 |
| 英文摘要 | 本发明提供一种基于线阵CCD交汇测量的立靶参数测试装置及其调试方法，解决现有线阵CCD交汇测试装置在外场应用时环境适应性差，调试效率低，设备调试、标定困难的问题。该测试装置中，支撑架、中间支架、调平底座由上到下依次安装；调平底座上设置有多组调平组件；激光照明装置和线阵CCD相机均设置在支撑架上；激光测距器设置在中间支架上；方位轴系包括主轴和主轴套，主轴位于调平底座内部，且与中间支架固定连接；主轴套套装在主轴的外部，且与调平底座固定连接；互瞄单元包括互瞄光源、互瞄相机和互瞄调整组件；互瞄光源、互瞄相机和互瞄调整组件设置在中间支架腔体内部，互瞄调整组件用于手动或电动旋转方位轴系，从而调整中间支架。 |
| 公开日期 | 2021-03-19 |
| 申请日期 | 2020-03-30 |
| 语种 | 中文 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/95196]  |
| 专题 | 西安光学精密机械研究所_光电测量技术实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李翔宇,丁璐,朱建国,等. 基于线阵CCD交汇测量的立靶参数测试装置及其调试方法. CN202010237263.X. 2021-03-19. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。