星载双光栅调制型成像仪器的入射光轴标定方法
文献类型：专利
| 作者 | 于基睿; 贺应红; 马小龙 ; 徐广州; 吕娟; 赵意意; 杨建峰
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| 发表日期 | 2020-08-12 |
| 专利号 | CN202010808132.2 |
| 著作权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 产权排序 | 1 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种星载双光栅调制型成像仪器的入射光轴标定方法，其主要步骤包括：1、建立双光栅调制型成像仪器的参考坐标系；2、确定指向光学系统的镜头光轴；3、通过指向光学系统的镜头光轴，获取双光栅调制型成像仪器的入射光轴；4、确定平行光光源的位姿，确保平行光源的平行光按照双光栅调制型成像仪器的入射光轴入射；5、利用探测器记录入射光的中心位置，从而完成双光栅调制型成像仪器入射光轴的标定。该方法易于实现，精度较高，指向光学系统的重量和功耗较低，符合星载设备的需求。 |
| 公开日期 | 2020-12-25 |
| 申请日期 | 2020-08-12 |
| 语种 | 中文 |
| 状态 | 申请中 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/95436]  |
| 专题 | 西安光学精密机械研究所_月球与深空探测技术研究室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 于基睿,贺应红,马小龙,等. 星载双光栅调制型成像仪器的入射光轴标定方法. CN202010808132.2. 2020-08-12. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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