高时间分辨、高灵敏度、多谱段响应的X射线测试系统
文献类型：专利
| 作者 | 高贵龙; 何凯 ; 闫欣; 汪韬; 尹飞; 田进寿; 辛丽伟; 贾祥志; 吴永程; 张杰
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| 发表日期 | 2020-04-10 |
| 专利号 | CN202010280601.8 |
| 著作权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 产权排序 | 1 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种高时间分辨、高灵敏度、多谱段响应的X射线测试系统，该系统具有时间分辨率高、可测谱段多、电磁兼容强、信噪比高以及全光纤高带宽的远程传输优势。其具体结构包括光强调制组件、可调谐光纤激光器、第一单模光纤、光纤环形器、第二单模光纤、第三单模光纤、光电探测器以及示波器；光强调制组件包括套筒、设置在套筒内的滤波片以及法布里‑波罗腔干涉型半导体；可调谐光纤激光器出射的连续激光通过第一单模光纤、光纤环形器、第二单模光纤入射至法布里‑波罗腔干涉型半导体内；经法布里‑波罗腔干涉型半导体进行光强调整后的激光光束传输至光电探测器进行光电信号转换，最终产生的电信号被示波器接收。 |
| 公开日期 | 2020-08-21 |
| 申请日期 | 2020-04-10 |
| 语种 | 中文 |
| 状态 | 申请中 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/95313]  |
| 专题 | 条纹相机工程中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 高贵龙,何凯,闫欣,等. 高时间分辨、高灵敏度、多谱段响应的X射线测试系统. CN202010280601.8. 2020-04-10. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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