高精度多光轴一致性测量系统及方法
文献类型：专利
| 作者 | 张玺斌; 赵建科 ; 徐亮; 刘峰; 高立民; 李晓辉; 李朝辉; 午建军; 刘勇
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| 发表日期 | 2020-04-23 |
| 专利号 | CN202010327369.9 |
| 著作权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 产权排序 | 1 |
| 英文摘要 | 本发明涉及多光轴一致性测量，具体涉及一种高精度多光轴一致性测量系统及方法。本发明的目的是解决现有多光轴一致性测量系统及方法存在无法建立高精度测量基准、难以进行兼顾激光发射光轴、激光接收光轴、可见光光轴、红外光轴的多光轴一致性测量的技术问题，提供一种高精度多光轴一致性测量系统及方法。该系统包括平行光管组件、焦点组件、取样镜组件、长焦自准直光管组件；平行光管组件包括离轴抛物面镜和折轴镜；取样镜组件包括第一取样镜和第二取样镜，第二取样镜为半透半反镜；长焦自准直光管组件包括会聚镜头、分光镜、CCD探测器、第二十字靶、面阵光源。该方法利用该系统进行测量。 |
| 公开日期 | 2020-07-24 |
| 申请日期 | 2020-04-23 |
| 语种 | 中文 |
| 状态 | 申请中 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/95323]  |
| 专题 | 精密计量技术研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张玺斌,赵建科,徐亮,等. 高精度多光轴一致性测量系统及方法. CN202010327369.9. 2020-04-23. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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