A novel pattern run-length coding method for test data compression
文献类型：期刊论文
| 作者 | Wu DC(吴殿丞) |
| 刊名 | IEICE Transactions on Electronics
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| 出版日期 | 2013 |
| 卷号 | E96-C期号:9页码:1201-1204 |
| 其他题名 | A novel pattern run-length coding method for test data compression |
| 源URL | [http://159.226.59.140/handle/311008/8013]  |
| 专题 | 历年期刊论文_2013年期刊论文 |
| 作者单位 | 中国科学院声学研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Wu DC. A novel pattern run-length coding method for test data compression[J]. IEICE Transactions on Electronics,2013,E96-C(9):1201-1204. |
| APA | 吴殿丞.(2013).A novel pattern run-length coding method for test data compression.IEICE Transactions on Electronics,E96-C(9),1201-1204. |
| MLA | 吴殿丞."A novel pattern run-length coding method for test data compression".IEICE Transactions on Electronics E96-C.9(2013):1201-1204. |
入库方式： OAI收割
来源：声学研究所
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