Thickness-dependent twinning evolution and ferroelectric behavior of epitaxial BiFeO3 (001) thin films
文献类型：期刊论文
| 作者 | Liu, Huajun ; Yao, Kui ; Yang, Ping ; Du, Yonghua ; He, Qing（何庆） ; Gu, Yueliang（顾月良） ; Li, Xiaolong（李晓龙） ; Wang, Sisheng（王思胜） ; Zhou, Xingtai（周兴泰） ; Wang, John |
| 刊名 | PHYSICAL REVIEW B
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| 出版日期 | 2010 |
| 卷号 | 82期号:6 |
| ISSN号 | 1098-0121 |
| 收录类别 | SCI |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2013-09-11 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/13062]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2004-2010年 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Liu, Huajun,Yao, Kui,Yang, Ping,et al. Thickness-dependent twinning evolution and ferroelectric behavior of epitaxial BiFeO3 (001) thin films[J]. PHYSICAL REVIEW B,2010,82(6). |
| APA | Liu, Huajun.,Yao, Kui.,Yang, Ping.,Du, Yonghua.,He, Qing.,...&Wang, John.(2010).Thickness-dependent twinning evolution and ferroelectric behavior of epitaxial BiFeO3 (001) thin films.PHYSICAL REVIEW B,82(6). |
| MLA | Liu, Huajun,et al."Thickness-dependent twinning evolution and ferroelectric behavior of epitaxial BiFeO3 (001) thin films".PHYSICAL REVIEW B 82.6(2010). |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
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