SR-XRD和EXAFS研究Mn掺杂ZnO薄膜的微观结构
文献类型：期刊论文
| 作者 | 张斌 ; 李敏 ; 王建中 ; 施立群 ; 承焕生 ; 杨铁莹 ; 文闻 ; 胡凤春 |
| 刊名 | 核技术
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| 出版日期 | 2012 |
| 期号 | 5页码:321-325 |
| ISSN号 | 0253-3219 |
| 中文摘要 | 用射频磁控溅射技术在蓝宝石衬底上制备了一组不同衬底温度的Mn掺杂ZnO薄膜。质子激发X射线荧光(PIXE)测量表明,薄膜中仅有含量为5 at.%的Mn,未见其它磁性杂质元素(如Fe、Co、Ni等)。同步辐射X射线衍射(SR-XRD)表明,这些Mn掺杂ZnO薄膜具有纤锌矿ZnO结构。SR-XRD和扩展X射线吸收精细结构谱(EXAFS)分析显示,薄膜中未发现Mn团簇或MnO、MnO2、Mn2O3、Mn3O4等二次相,Mn原子是通过替代Zn原子而进入了ZnO晶格。 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2013-09-11 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/12715]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2011-2017年 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张斌,李敏,王建中,等. SR-XRD和EXAFS研究Mn掺杂ZnO薄膜的微观结构[J]. 核技术,2012(5):321-325. |
| APA | 张斌.,李敏.,王建中.,施立群.,承焕生.,...&胡凤春.(2012).SR-XRD和EXAFS研究Mn掺杂ZnO薄膜的微观结构.核技术(5),321-325. |
| MLA | 张斌,et al."SR-XRD和EXAFS研究Mn掺杂ZnO薄膜的微观结构".核技术 .5(2012):321-325. |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
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