同步辐射用光学元件面形绝对检测方法的研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 林维豪 ; 罗红心 ; 宋丽 ; 张翼飞 ; 王劼 |
| 刊名 | 光学学报
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| 出版日期 | 2012 |
| 期号 | 9页码:137-143 |
| ISSN号 | 0253-2239 |
| 中文摘要 | 为实现同步辐射用光学元件面形的绝对检测,发展了镜面旋转对称三平板检测法。该方法将菲佐干涉法检测到的波前函数关于y轴分解成镜面对称部分与镜面非对称部分,再利用N次旋转取平均值消除镜面非对称部分,从而通过计算获得待测平面的绝对面形分布。推导了镜面旋转对称法检测矩形平面镜面形的公式,应用该方法设计了高精度矩形平面镜的测试实验,并进行了误差分析。实验结果表明,与传统三平板绝对测量方法相比较,两种方法在高度轮廓误差和斜率误差方面的计算结果都符合较好,其对比后的残差均方根(RMS)值分别为λ/500(λ=632.8nm)与0.93μrad。 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2013-09-11 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/12813]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2011-2017年 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 林维豪,罗红心,宋丽,等. 同步辐射用光学元件面形绝对检测方法的研究[J]. 光学学报,2012(9):137-143. |
| APA | 林维豪,罗红心,宋丽,张翼飞,&王劼.(2012).同步辐射用光学元件面形绝对检测方法的研究.光学学报(9),137-143. |
| MLA | 林维豪,et al."同步辐射用光学元件面形绝对检测方法的研究".光学学报 .9(2012):137-143. |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
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