中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
利用同步辐射XRD研究BiFeO_3外延多铁薄膜的微结构

文献类型:期刊论文

作者李晓龙 ; 王灿 ; 顾月良 ; 何庆 ; 吕惠宾 ; 金奎娟 ; 周兴泰 ; 徐洪杰
刊名中国科学:物理学 力学 天文学
出版日期2011
期号1页码:12-16
关键词铁电薄膜 微结构 同步辐射衍射
ISSN号1674-7275
中文摘要使用脉冲激光沉积在SrTiO3衬底上生长了不同厚度的BiFeO3(BFO)薄膜,X射线衍射分析表明薄膜是BFO外延薄膜.X射线反射率测量发现BFO薄膜密度随着厚度的增加而增加,同时薄膜表面存在厚度为数纳米的非设计覆盖层.随着厚度的增加,BFO薄膜由完全应变过渡到应变部分弛豫状态,同时BFO从四方相转变为单斜相.
收录类别CNKI
语种中文
公开日期2013-09-11
源URL[http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/12596]  
专题上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2011-2017年
推荐引用方式
GB/T 7714
李晓龙,王灿,顾月良,等. 利用同步辐射XRD研究BiFeO_3外延多铁薄膜的微结构[J]. 中国科学:物理学 力学 天文学,2011(1):12-16.
APA 李晓龙.,王灿.,顾月良.,何庆.,吕惠宾.,...&徐洪杰.(2011).利用同步辐射XRD研究BiFeO_3外延多铁薄膜的微结构.中国科学:物理学 力学 天文学(1),12-16.
MLA 李晓龙,et al."利用同步辐射XRD研究BiFeO_3外延多铁薄膜的微结构".中国科学:物理学 力学 天文学 .1(2011):12-16.

入库方式: OAI收割

来源:上海应用物理研究所

浏览0
下载0
收藏0
其他版本

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。