同步辐射双晶单色器平行度测量方法研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 刘石磊 ; 王丽 ; 徐中民 ; 王纳秀 |
| 刊名 | 核技术
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| 出版日期 | 2011 |
| 期号 | 6页码:411-414 |
| 关键词 | 双晶单色器 平行度 光笔干涉仪 |
| ISSN号 | 0253-3219 |
| 中文摘要 | 针对上海光源(SSRF)光束线建设和晶体单色器须进行双晶晶体表面(晶面)平行度离线测量的需求,探讨了利用十字位相板改进后光笔干涉仪法测量双晶晶体表面平行度的可行性,并开展原理性实验。该方法克服了自准直仪法不能测量晶面绝对平行度的缺陷,并实现了同时测量双晶单色器的二维平行度。在本实验装置下,投角和滚角的理论测量精度可达0.89″和1.79″,为调节双晶单色器晶面平行度提供一种新的测量方法。 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2013-09-11 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/12629]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2011-2017年 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘石磊,王丽,徐中民,等. 同步辐射双晶单色器平行度测量方法研究[J]. 核技术,2011(6):411-414. |
| APA | 刘石磊,王丽,徐中民,&王纳秀.(2011).同步辐射双晶单色器平行度测量方法研究.核技术(6),411-414. |
| MLA | 刘石磊,et al."同步辐射双晶单色器平行度测量方法研究".核技术 .6(2011):411-414. |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
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